DHTGB 动态高温栅偏老化系统

动态高温栅极偏置测试系统 - DHTGB

产品概述
DHTGB-40V-1L 动态高温栅极偏置测试系统专为高功率半导体器件（如SIC MOSFET）进行高温环境下的栅极偏置特性测试而设计。系统支持直流和动态测试模式，并提供高精度的电压和电流测量，能够模拟和监控在高温条件下器件的工作状态（Ig、Vg、Vth），帮助工程师更好地分析和优化器件性能。

主要特性

• 测试通道与工位：系统配备5个测试通道，每个通道16个工位，总共可支持80个测试工位。

• 温度控制：提供5个独立温控区，每个区域可以单独设置温度，温度范围从常温至175°C，精度±2°C。

• 电压与电流测量：支持电压范围±40V，电流测量范围从10nA到250uA，精度高达±(0.1%+0.02V)。

• 频率范围：支持10kHz至200kHz频率的动态测试。

• 数据管理与输出：所有测试数据以CSV格式输出，并可通过EXCEL进行编辑和分析。测试数据可以按最小3秒的间隔保存，并支持曲线图显示，便于历史数据查看。

测试模式

1. 直流测试模式：适用于常规静态电流特性测试。

2. 动态测试模式：模拟实际工作环境，测试器件在高频信号下的性能。