GaN DHTOL 氮化镓动态高温老化系统

产品介绍：GaN动态工作寿命测试系统 (DHTOL-GAN-80C)

DHTOL-GAN-80C GaN动态工作寿命测试系统是国内首个量产专为GaN HEMT器件设计的高性能测试平台，主要用于评估GaN功率器件在不同工作条件下的长期可靠性。系统支持多通道、高电压和宽频率范围，能够模拟实际应用中的工作环境，全面测试GaN器件的性能。

主要特点：

• 高测试容量：

• 系统具有4个通道，每通道20个工位，最大支持80个工位同时进行测试。

• 广泛的测试范围：

• 温度范围： 常温至80℃，通过水冷恒温槽进行温控。

• 电压范围： Vds电压范围5V至1000V，满足不同功率要求。

• 电流范围： 支持1-3A的电阻负载测试，每工位最大40A的电感负载测试。

• 频率范围： 20KHz至500KHz，可支持最高1MHz（目前已在单板测试中验证）。

• 精确的电压与电流控制：

• Vg电压： 范围-25V至25V可调，适配不同工作模式。

• Rdson测试： 静态与动态Rdson测试，提供精准的电流与电压测量。

• Id电流测试： 支持静态与开态测试，满足多种测试需求。

• 高级功能与数据管理：

• 所有测试数据以CSV格式输出，便于后期通过Excel进行分析和处理。

• 提供实时曲线显示与历史数据查看功能，帮助用户更好地跟踪和评估测试结果。

• 数据保存间隔最小为1分钟，确保精确记录每次测试的每一变化。

• 波形抓取与IV功率曲线生成：

• 我们采用机械臂与示波器的组合，实现单工位的波形抓取。

• 配备高精度电流探头、高压差分探头和低压钳位探头，全方位测量器件开关过程中的电流、电压波形。

• 基于这些波形数据，系统可自动生成IV功率曲线，进一步提升测试的精度与数据分析能力。

设备配置：

• 母板与驱动子版：

• 母板数量为16块，每块具有5个工位，支持更换电阻与电感。

• 每个工位配备驱动子版，最大支持80个工位。

• 冷却与散热系统：

• 内部电阻、被测器件散热采用水冷系统，确保设备高效运行。

• 电源系统：

• 每个通道配备独立程控电源，最高支持1000V电压输出。

• 工业控制系统：

• 配备研华610L工业主机，1TB硬盘，运行正版Windows 10操作系统，带有显示器、键盘和鼠标。

测量精度：

• 电压：

• 测量范围：0-650V，分辨率：1V，精度：±（0.5%+1V）。

• 电流：

• 开态电流： 1-3A，分辨率：0.1A，精度：±（1%+0.2A）。

• 静态电流： 0.1uA-20mA，精度：±（1%+0.1uA）。

• 温度：

• 温度测量范围：分辨率1℃，精度：±2℃（低于100℃）。

DHTOL-GAN-80C GaN动态工作寿命测试系统以其多通道、高精度的测量能力、先进的数据管理功能和波形捕捉技术，成为GaN HEMT器件可靠性测试的理想选择，广泛应用于GaN功率器件的研发和质量控制。