PC power cycling 间歇寿命

产品介绍：PC间歇测试系统

PC间歇测试系统是一款高精度的功率循环测试设备，专为测试IGBT、MOSFET（SiC MOS）和二极管等功率电子元件的热阻与温度循环性能设计。该系统符合AEC-Q101和JEDEC JESD51-1/JESD51-14等国际标准，广泛应用于半导体、汽车电子和能源领域的元器件可靠性验证。

主要特点：

• 符合国际标准：

• 采用JEDEC JESD51-1/JESD51-14标准，支持AEC-Q101热阻和结温测试，确保测试结果的准确性和可靠性。

• 高效的测试能力：

• 测试元件： 支持IGBT、MOSFET（包括SiC MOS）和二极管的测试。

• 测试通道： 配备3个独立测试区，每区有4个采样通道，总计支持12个采样通道同时工作，能够高效进行多个器件的测试。

• 温控与水冷系统：

• 配备3块双入双出镜像水道水冷板，每块冷板安装2个Tc温度探头，确保温度测试的高精度和一致性。

• 冰水机：配备安格斯AW-6H冰水机，具有15KW的制冷功率，温度控制精度优于0.5℃，确保整个测试过程中的温控稳定。

• 强大的电流控制：

• 提供6个500A高精度电流源，在低电流工作区间具有高精度的同时，支持多种电流组合：每路500A，最多支持并联配置达到3000A，满足高功率器件的测试需求。

• 多种测试模式：

• 秒级与分钟级功率循环模式：支持加热冷却周期ON/OFF时间编程（0.5S-600S），适用于不同的功率循环需求。

• 静态与瞬态热阻测试：能够测量和绘制热阻曲线，支持瞬态双界面法测试，SOA区间绘制，符合MIL-750-3100和JESD51-14标准。

• 恒流老化测试：定期监测结温（Tj），帮助分析器件长期稳定性。

• 精确的数据监控与显示：

• 实时显示IH（加热电流）、Vce（高温压降/低温压降）、Tj（结温）等重要参数，并支持实时数据曲线显示。

• 数据以TXT或CSV格式输出，便于后续使用Excel进行分析和处理。

• 物联网支持：

• 支持通过API与实验室物联网系统进行数据采集，实现远程监控和数据共享。

设备配置：

• 电源系统：

• 配备日本TDKLambda高精度电源，最大输出功率1500W，每路电流可达500A，输出电流精度为<0.1%读值+0.1A。

• 水冷板与温控系统

• 数据采集系统：

• 配备进口NI数据采集单元，精度：16-Bit A/D，支持12通道同步高达500k/s的采样速率，提供精准的数据采集和实时监控功能。

• 控制系统：

• 研华610L工控机，运行Windows 10操作系统，支持设备参数设定与数据输出。

PC间歇测试系统凭借其高效的测试能力、精准的测量精度和智能化的控制功能，成为功率器件测试与可靠性验证的理想平台，广泛应用于半导体、功率电子等高可靠性要求的领域。