被动热循环测试系统 - TC-SC-2
TC-SC-2是专为功率半导体器件(如IGBT模块)设计的热循环测试设备。通过模拟快速加热和冷却,测试器件在不同温度下的耐用性和可靠性。
核心特点:
双工位设计:每个工位独立控制,支持单一器件测试。
精准温控:温度范围20°C至150°C,精度±1°C,温控速率0.5K/s至2K/s。
高效冷却系统:内置冰水机,冷却水温和流量可调。
多重保护:超温、烟雾、漏水报警,确保操作安全。
数据记录与分析:自动记录温度、加热时间、循环次数等,可导出数据分析。
技术参数:
温度范围:20°C-150°C
加热/冷却速率:0.5K/s至2K/s
循环次数:>200,000次
水流量:0-20L/min,精度±0.5L/min
安全功能:
超温保护、烟雾探测、漏水报警。