高加速偏压， HAST

产品介绍：HAST高加速湿热测试系统 (GWPO24-0930)

本HAST高加速湿热测试系统专为半导体器件（二极管、Si/SiC/GaN MOSFET、IGBT）的可靠性测试而设计。该系统通过高温、高湿、高压的极限环境加速器件老化过程，有效评估产品的密封性能和耐湿热特性，大幅缩短测试周期，提前发现潜在质量问题，确保产品在实际应用环境中的长期可靠性。

主要特点：

原装进口设备：配备日本原装进口ESPEC HAST测试箱，确保测试环境的稳定性和可靠性。

国际标准兼容：符合JESD22-A110与IEC-60068-2-66等国际测试标准。

精准环境参数： 温度范围25℃至150℃，湿度可达85%RH，压力范围0.02MPa至0.4MPa。

多通道测试： 8个测试板插槽，32路独立测量通道，最高320工位，支持批量测试与个性化控制。

高效数据管理： 实时数据监控与记录，支持多种数据格式导出与MES系统集成。

GWPO24-0930 HAST高加速湿热测试系统凭借日本原装进口品质和精密测控性能，为高可靠性要求领域提供理想的测试平台。